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標(biāo)簽 > JTAG
JTAG是英文“Joint Test Action Group(聯(lián)合測試行為組織)”的詞頭字母的簡寫,該組織成立于1985 年,是由幾家主要的電子制造商發(fā)起制訂的PCB 和IC 測試標(biāo)準(zhǔn)。
JTAG是英文“Joint Test Action Group(聯(lián)合測試行為組織)”的詞頭字母的簡寫,該組織成立于1985 年,是由幾家主要的電子制造商發(fā)起制訂的PCB 和IC 測試標(biāo)準(zhǔn)。JTAG 建議于1990 年被IEEE 批準(zhǔn)為IEEE1149.1-1990 測試訪問端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了進(jìn)行邊界掃描所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準(zhǔn)后,IEEE 分別于1993 年和1995 年對該標(biāo)準(zhǔn)作了補充,形成了現(xiàn)在使用的IEEE1149.1a-1993 和IEEE1149.1b-1994。JTAG 主要應(yīng)用于:電路的邊界掃描測試和可編程芯片的在線系統(tǒng)編程。
JTAG是英文“Joint Test Action Group(聯(lián)合測試行為組織)”的詞頭字母的簡寫,該組織成立于1985 年,是由幾家主要的電子制造商發(fā)起制訂的PCB 和IC 測試標(biāo)準(zhǔn)。JTAG 建議于1990 年被IEEE 批準(zhǔn)為IEEE1149.1-1990 測試訪問端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了進(jìn)行邊界掃描所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準(zhǔn)后,IEEE 分別于1993 年和1995 年對該標(biāo)準(zhǔn)作了補充,形成了現(xiàn)在使用的IEEE1149.1a-1993 和IEEE1149.1b-1994。JTAG 主要應(yīng)用于:電路的邊界掃描測試和可編程芯片的在線系統(tǒng)編程。
JTAG也是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議(IEEE 1149.1兼容),主要用于芯片內(nèi)部測試?,F(xiàn)今多數(shù)的高級器件都支持JTAG協(xié)議,如DSP、FPGA、ARM、部分單片機(jī)器件等。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線:TMS、TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。 相關(guān)JTAG引腳的定義為:TCK為測試時鐘輸入;TDI為測試數(shù)據(jù)輸入,數(shù)據(jù)通過TDI引腳輸入JTAG接口;TDO為測試數(shù)據(jù)輸出,數(shù)據(jù)通過TDO引腳從JTAG接口輸出;TMS為測試模式選擇,TMS用來設(shè)置JTAG接口處于某種特定的測試模式;TRST為測試復(fù)位,輸入引腳,低電平有效。GND
TI還定義了一種叫SBW-JTAG的接口,用來在引腳較少的芯片上通過最少的利用引腳實現(xiàn)JTAG接口,它只有兩條線,SBWTCK,SBWTDIO。實際使用時一般通過四條線連接,VCC,SBWTCK,SBWTDIO,GND,這樣就可以很方便的實現(xiàn)連接,又不會占用大量引腳。
JTAG最初是用來對芯片進(jìn)行測試的,基本原理是在器件內(nèi)部定義一個TAP(Test Access Port測試訪問口)通過專用的JTAG測試工具對內(nèi)部節(jié)點進(jìn)行測試。JTAG測試允許多個器件通過JTAG接口串聯(lián)在一起,形成一個JTAG鏈,能實現(xiàn)對各個器件分別測試?,F(xiàn)今,JTAG接口還常用于實現(xiàn)ISP(In-System Programmable;在線編程),對FLASH等器件進(jìn)行編程。
JTAG編程方式是在線編程,傳統(tǒng)生產(chǎn)流程中先對芯片進(jìn)行預(yù)編程后再裝到板上因此而改變,簡化的流程為先固定器件到電路板上,再用JTAG編程,從而大大加快工程進(jìn)度。JTAG接口可對DSP芯片內(nèi)部的所有部件進(jìn)行編程。
在硬件結(jié)構(gòu)上,JTAG 接口包括兩部分:JTAG 端口和控制器。與JTAG 接口兼容的器件可以是微處理器(MPU)、微控制器(MCU)、PLD、CPL、FPGA、DSP、ASIC 或其它符合IEEE1149.1 規(guī)范的芯片。IEEE1149.1 標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定對應(yīng)于數(shù)字集成電路芯片的每個引腳都設(shè)有一個移位寄存單元,稱為邊界掃描單元BSC。它將JTAG 電路與內(nèi)核邏輯電路聯(lián)系起來,同時隔離內(nèi)核邏輯電路和芯片引腳。由集成電路的所有邊界掃描單元構(gòu)成邊界掃描寄存器BSR。邊界掃描寄存器電路僅在進(jìn)行JTAG 測試時有效,在集成電路正常工作時無效,不影響集成電路的功能。
esp32c3內(nèi)置USB-Serial-JTAG的使用
1、介紹一句話:esp32-c3內(nèi)置了兩個開發(fā)利器usb-serial和usb-jtag,只需要一條數(shù)據(jù)線即可進(jìn)行程序燒錄、在線調(diào)試、日志輸出,大大方便...
JTAG接口:電子產(chǎn)品開發(fā)和生產(chǎn)中的“萬能鑰匙”
JTAG(Joint Test Action Group,聯(lián)合測試行動小組)接口是一種 國際標(biāo)準(zhǔn)的電子電路測試協(xié)議 ,最初是為了便于芯片級的測試和調(diào)試而...
瑞薩RZ/T2M和RZ/N2L的I-jet JTAG認(rèn)證
RZ/T2M是一款行業(yè)領(lǐng)先的高性能、多功能MPU,可實現(xiàn)AC伺服系統(tǒng)和工業(yè)電機(jī)等工業(yè)設(shè)備的高速處理、高精度控制和功能安全。
因為目前軟件的限制,RISCV的邏輯不能同時共用JTAG,所以如果想要同時去調(diào)試邏輯和RISCV的話,可以通過RISCV的soft Jtag來實現(xiàn)。so...
2024-04-23 標(biāo)簽:JTAGGPIOJTAG調(diào)試 746 0
調(diào)試是軟件開發(fā)的一個重要組成部分,通常是最消耗時間的(也因此非常昂貴)。錯誤可以是很難察覺、重現(xiàn)和修復(fù)的,而且也難以預(yù)料解決一個缺陷需要多長的時間。
2024-01-02 標(biāo)簽:arm嵌入式系統(tǒng)JTAG 2087 0
基于JTAG的SoC片上調(diào)試系統(tǒng)設(shè)計立即下載
類別:電子資料 2023-11-07 標(biāo)簽:socJTAG調(diào)試系統(tǒng)
類別:電子資料 2023-09-15 標(biāo)簽:fpgaJTAGUltraScale
國內(nèi)首款自研的DFT EDA工具IMPERATA重磅發(fā)布
IMPERATA是簡矽自主研發(fā)的一款DFT EDA工具。它提供了一整套解決方案,用于在集成電路設(shè)計過程中實現(xiàn)測試和驗證的自動化。
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月薪5K單片機(jī)工程師逆襲2w+:明白這一點,你的人生也能開掛!
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記錄Red Lite Env項目的基礎(chǔ)搭建過程及碰到的問題
需要使用的關(guān)鍵工具是,開源的調(diào)試器 openocd, 涉及到有兩個配置文件,分別是 target 的配置文件 gd32f3x.cfg
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