深入解析TC3xx芯片中的SMU模塊應用

SMU_CORE 和 SMU_Stdby 的設計方式和時間安排各不相同。SMU 的兩個部分之間存在物理隔離。它們位于不同的時鐘和電源域中。這允許 SMU...

2024-02-27 標簽：微控制器寄存器路由器 3421 0

如何用半導體參數分析儀進行斜坡法準靜態C-V測量？

電容電壓（C-V）測量通常采用交流測量技術。而一些電容測量需要直流測量技術，被稱為準靜態C-V（或QSCV）測量，因為它們是在非常低的測試頻率下進行的，...

2024-02-22 標簽：半導體前置放大器SMU 1089 0

英飛凌TC3xx系列安全管理單元的使用

本篇文檔主要用來介紹英飛凌基于AURIX-2G TriCore 1.6.2架構的 TC3xx系列安全管理單元的使用。

2023-12-07 標簽：英飛凌mcu安全管理 2019 0

數字源表如何選型？不如來下文“挖一挖”

數字源表也稱為源測量單元(SMU),集數字萬用表、電壓源、電流源、電子負載以及脈沖發生器、波形發生器等功能于一體，同時可精確限流保護器件不受損壞。在功率...

2023-06-08 標簽：脈沖發生器SMU數字源表 749 0

【技術大咖測試筆記系列】之九：新型SMU克服低電流容性設置的棘手測試挑戰

與其他靈敏的SMU相比，新推出的Keithley 4201-SMU中等功率SMU和4211-SMU高功率SMU （選配4200-PA前置放大器）大幅度提...

2021-11-23 標簽：前置放大器OLED平板顯示器 2050 0

【當代材料電學測試】系列之四：寬禁帶材料測試

隨著電子電力的發展，功率器件的使用越來越多，SiC、GaN等被廣泛應用于射頻與超高壓等領域。

2021-03-26 標簽：萬用表SiCGaN 1012 0

【當代材料電學測試課堂】系列之一： 納米測試（上）

納米材料的表征包括成分分析，顆粒分析，結構分析，性能分析，分析方法以電鏡分析為主，特別是掃描隧道電鏡（SMT），在導體和半導體納米材料分析上具有優勢。

2021-02-25 標簽：納米石墨烯SMU 2223 0

一文解析源測量單元（SMU）儀器

源測量單元（SMU）儀器在單個儀器中集成了精密電源（PPS）和高性能數字萬用表（DMM）的功能。

2021-05-07 標簽：脈沖發生器SMU波形發生器 9234 0

使用源度量單位儀器的工作原理

盡管電源和DMM適合某些測量，但在同一臺儀器中進行采購和測量有許多優點。但是我遇到的許多工程師都不熟悉這種方法。對于此博客文章，我已經請我的同事*瑪麗·...

2021-05-11 標簽：充電電池脈沖發生器SMU 3718 0

山東理工大學物電學院攜手普賽斯儀表共建半導體物理實驗室！

在創新驅動發展戰略下，為進一步加強高等教育與產業的深度融合，促進科技成果轉化與人才培養質量的雙重提升，山東理工大學物理與光電工程學院與武漢普賽斯儀表有限...

2024-08-21 標簽：半導體SMU數字源表 513 0

普賽斯儀表攜功率半導體電性能表征一站式解決方案亮相慕尼黑上海電子展!

7月8日，2024慕尼黑上海電子展在上海新國際博覽中心開幕，本屆展會以新能源汽車、儲能、智能駕駛、衛星通信、機器人、可穿戴、智能建筑、邊緣智能、智慧電源...

2024-08-14 標簽：半導體SMU數字源表 330 0

SMU數字源表測試IC芯片電性能方案

芯片測試作為芯片設計、生產、封裝、測試流程中的重要步驟，是使用特定儀器，通過對待測器件DUT(DeviceUnderTest)的檢測，區別缺陷、驗證器件...

2024-05-13 標簽：SMU數字源表IC芯片 517 0

如何用SMU數字源表簡化晶體管的iv性能

晶體管特性參數測試是對待測器件（DUT）施加電壓或電流，然后測試其對激勵做出的響應；通常晶體管特性參數測試需要幾臺儀器完成，如數字表、電壓源、電流源等。...

2024-03-13 標簽：晶體管SMU數字源表 442 0

SMU數字源表IV掃描測試納米材料電性能方案

納米材料及器件作為戰略性新興產業和高新技術產業，是促進產業轉型升級和高質量發展的重要支柱之一。普賽斯數字源表具有測試精度高、微弱信號檢測能力強的特點，可...

2024-03-05 標簽：測試SMU數字源表 705 0

薄膜材料電阻率與霍爾遷移率測試詳解

薄膜作為一種重要的材料形態，在各個領域中都有著廣泛的應用。

2024-01-04 標簽：集成電路SMU薄膜電阻 1064 0

國產源表的優勢和應用前景分析：聯訊儀器參數對比

在電子測試和測量領域，源表是重要的工具，無法或缺。國產源表如聯訊儀器S3022F和S3012H在性能和功能方面已經能夠與進口源表相媲美。 首先，進口源...

2023-07-19 標簽：測量SMU源表 2248 2

新品 | 聯訊儀器 PXIe 精密源表S2013C，高速高精度測量！

聯訊儀器PXIe源測量單元(SMU)集成高精度源和測量單元，可利用PXIe源測量單元構建高密度并行測試系統，以滿足大規模半導體集成電路的高通道密度，并增...

2023-07-18 標簽：測量SMU數字源表 763 0

新品 ┃ 聯訊儀器全新推出200V PXIe 精密源表S2012C

聯訊儀器全新推出PXIe精密電源/測量單元S2012C。其最小測量分辨率達10fA/100nV，輸出電壓高達±200V。

2023-01-30 標簽：SMU數字源表 1057 0