CD-SEM是怎樣測線寬呢？CD-SEM與普通SEM有哪些區別？

CD-SEM,全名Critical Dimension Scanning Electron Microscopy，中文翻譯過來是：特征尺寸掃描電子顯微鏡。

2023-10-07 標簽：晶圓芯片制造SEM 6375 0

SEM&EDS分析在PCB失效分析中的應用

PCB失效原因越來越多，在以前看起來難以發現的問題，現在可以用掃描電子顯微鏡與能譜（SEM&EDS）分析出來。本文介紹了在PCB生產過程中利用S...

2021-10-20 標簽：pcbSEM失效分析 5765 0

ESD防護電阻的妙用與失效分析

無源器件在電路中一直扮演著很重要的角色，同樣在ESD設計中也需要應用無源器件，亦或是無源器件也同樣要承受ESD沖擊。

2023-06-12 標簽：串聯電阻SEMNMOS管 5681 0

EDS面掃、線掃、點掃的應用

能譜儀（EDS）是一種快速分析樣品微區內元素種類及含量的重要工具，通常與掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）組合使用，實現形貌與成分的對照。它的工作原...

2023-08-29 標簽：硬件SEMEDS 5238 0

壓電催化醫學研究進展綜述

壓電材料可以通過壓電效應將機械力轉化為電場，反之亦然。壓電效應誘導的有效界面電荷轉移有助于壓電材料具有良好的氧化還原催化活性。

2023-04-27 標簽：PCMSEM壓電效應 4995 0

沉鎳金可焊性不良分析及改善說明

從2月份開始陸續收到研祥投訴沉金可焊性不良問題，異常產品信息如下：

2021-10-20 標簽：貼裝焊接SEM 4938 0

SEM：掃描線圈和放大倍率簡析

常規的TEM使用固定的入射電子束，而SEM的電子束在兩個垂直的（X和Y）方向上水平掃描樣品。

2023-12-01 標簽：探測器存儲器CRT技術 4693 0

掃描電鏡應用之SEM-EDS金屬材料研究及失效分析

材料的性能與組織的關系 正確的金相分析是失效分析的基礎。首先是對各種光學顯微鏡不能分辨的基本顯微組織的分析，如隱針馬氏體、屈氏體等；其次是對顯微組織精細...

2021-12-22 標簽：SEM失效分析EDS 4487 0

用于促進生物膜清除和糖尿病傷口愈合的多酶級聯雙層微針反應系統

生物膜的存在仍然是慢性傷口愈合的重要障礙，包括糖尿病傷口。

2023-09-12 標簽：壓縮機SEMEPS 4423 0

銀粉形貌觀察和直徑測量（掃描電鏡）分析

銀粉形貌圖 （掃描電鏡SEM） 銀粉的品種很多，可以依據物理化學特性和市場需求進行不同分類，每一類別里又有不同銀粉應用于不同方面，細化使用的目標是最大程...

2021-11-25 標簽：SEM熱力學 4024 0

FIB-SEM雙束技術及應用介紹

聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統后，通過結合相應的氣體沉積裝置，納米操縱儀，各種探測器及可控的樣品臺等附件成...

2021-04-29 標簽：半導體SEM顯微鏡 3579 0

SEM掃描電鏡工作原理，SEM掃描電鏡技術應用

這是Amanda王莉第55篇文章,點這里關注我,記得標星在當今世界，SEM掃描電子顯微鏡分析技術，一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段，...

2023-07-05 標簽：SEM電鏡 3414 0