本文介紹如何利用先進(jìn)的測(cè)試平臺(tái)來對(duì)ADSL芯片的某些關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，從而使半導(dǎo)體制造商能夠降低ADSL器件的測(cè)試成本。
2011-11-21 17:49:28
1805 ，然高瓦數(shù)的SMU往往價(jià)格昂貴，有鑒于此，美商國家儀器（NI）發(fā)布新一代PXI模組化 SMU儀器，助力客戶大幅降低測(cè)試成本。
2014-02-18 09:46:131086 NI今天推出的全新HIL仿真儀基于開放的商用現(xiàn)成平臺(tái)，可降低開發(fā)和測(cè)試風(fēng)險(xiǎn)，而且無需犧牲靈活性，滿足今天日益緊迫的開發(fā)時(shí)間要求、不斷變化的測(cè)試需求、以及人手縮減等各種挑戰(zhàn)。
2016-08-03 11:32:211011 目前的雷達(dá)系統(tǒng)往往需經(jīng)過進(jìn)階測(cè)試與驗(yàn)證，才能確保該系統(tǒng)可在復(fù)雜且混亂的通訊環(huán)境下正常運(yùn)作，同時(shí)確定該系統(tǒng)完全符合效能規(guī)格，并可進(jìn)一步充分發(fā)揮其效能特性。工程師在針對(duì)雷達(dá)系統(tǒng)設(shè)定自動(dòng)化測(cè)試時(shí)，評(píng)估系統(tǒng)
2017-10-30 13:55:323723 日前，在SEMICON China 2019展期間，NI重點(diǎn)展示了其在半導(dǎo)體芯片和制造方面的測(cè)試方案，包括電源管理、5G射頻以及量產(chǎn)半導(dǎo)體?測(cè)試系統(tǒng)(STS)，NI工程師向電子發(fā)燒友詳細(xì)介紹了這些測(cè)試領(lǐng)域面臨的挑戰(zhàn)以及NI的解決方案。
2019-03-28 11:00:396326 NI 提供了高速、靈活、精確的RF硬件，并搭配功能強(qiáng)大的NI LabVIEW軟件，以適應(yīng)無線通信領(lǐng)域日新月異的需求，并且貫穿了從設(shè)計(jì)、驗(yàn)證到生產(chǎn)的所有工程設(shè)計(jì)階段。
2019-08-16 07:10:03
概述NI 提供了高速、靈活、精確的RF硬件，并搭配功能強(qiáng)大的NI LabVIEW軟件，以適應(yīng)無線通信領(lǐng)域日新月異的需求，并且貫穿了從設(shè)計(jì)、驗(yàn)證到生產(chǎn)的所有工程設(shè)計(jì)階段。為了能滿足不斷發(fā)展的通訊標(biāo)準(zhǔn)
2019-06-04 08:19:03
不止STS（半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)），NI更多半導(dǎo)體測(cè)試方案來襲，附技術(shù)白皮書《5G新空口物理層介紹》
2021-01-18 06:59:56
NICompactDAQ 系統(tǒng)通過一個(gè)USB接口可以同時(shí)傳送高速模擬輸入、模擬輸出、數(shù)字輸入和數(shù)字輸出數(shù)據(jù)。NI CompactDAQ的性能優(yōu)勢(shì)靈活的特性在適應(yīng)變化的測(cè)試需求方面，NI CompactDAQ
2009-02-25 23:22:46
現(xiàn)代高集成度的芯片有著“射頻到比特流”(“RF-to-bits”)或“射頻到模擬基帶”的構(gòu)架。射頻部分集成度提高帶來最大的沖擊之一是測(cè)試模式的轉(zhuǎn)移，即使得系統(tǒng)級(jí)的測(cè)試成為可能。
2019-09-03 06:45:33
作者： Robert GeeMaxim Integrated核心產(chǎn)品事業(yè)部執(zhí)行業(yè)務(wù)經(jīng)理 在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域，管理成本依然是最嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)之一，因?yàn)樽詣?dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)是一項(xiàng)重大的資本支出。那么，有沒有能夠降低每片晶圓的成本，從而提升競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)的方法呢？有，答案就是提高吞吐率。
2019-07-29 08:11:12
無嚴(yán)格要求的特點(diǎn)。因此，目前檢測(cè)半導(dǎo)體材料電阻率，尤其對(duì)于薄膜樣品來說，四探針是較常用的方法?！ ∷奶结樇夹g(shù)要求使用四根探針等間距的接觸到材料表面。在外邊兩根探針之間輸出電流的同時(shí)，測(cè)試中間兩根探針的電壓差。最后，電阻率通過樣品的幾何參數(shù)，輸出電流源和測(cè)到的電壓值來計(jì)算得出。
2021-01-13 07:20:44
對(duì)于手機(jī)產(chǎn)品，要想使價(jià)格具有竟?fàn)幜?，在設(shè)計(jì)時(shí)采用低成本元器件僅僅是第一步。生產(chǎn)過程成本，特別是最終測(cè)試過程中所發(fā)生的成本對(duì)于最終產(chǎn)品價(jià)格有同樣重要的影響。而且，設(shè)計(jì)工程師經(jīng)常會(huì)低估生產(chǎn)過程所增加的成本。由于這些原因，生產(chǎn)工程師和設(shè)計(jì)工程師必須密切協(xié)作才能保證準(zhǔn)確達(dá)到生產(chǎn)成本目標(biāo)。
2019-06-04 07:00:35
SRCNEW，增強(qiáng)了一項(xiàng)也就是自適應(yīng)，實(shí)現(xiàn)了跑流，測(cè)試設(shè)備干擾規(guī)避開。
需要新增增強(qiáng)測(cè)試項(xiàng)，請(qǐng)問如何測(cè)試SRRC？
客戶：IDPRT
操作系統(tǒng)：RTOS
PN: CYW43438
請(qǐng)問是使用以下方法嗎？
2024-03-01 08:46:31
為降低多重通訊產(chǎn)品的測(cè)試成本而設(shè)計(jì)，是一個(gè)創(chuàng)新的兼容多個(gè)無線標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試設(shè)備。它可以同時(shí)測(cè)試多種無線通訊的性能，與單項(xiàng)逐一測(cè)試的方法相比，可節(jié)約多達(dá)75%的時(shí)間。特別是基于序列的測(cè)試可以縮短Tx和Rx
2018-02-28 17:10:16
挑戰(zhàn)，5G測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)人員需要采用一種能夠在廣泛的頻帶中適應(yīng)極端多信道測(cè)試環(huán)境的射頻組件，同時(shí)這種組件又不能顯著增加設(shè)備的尺寸和重量，尤其是成本。這意味著需要更高的集成度并采用一種全新的系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案
2018-07-04 10:20:48
的測(cè)試內(nèi)容進(jìn)行全面測(cè)試，提高生產(chǎn)效率，降低測(cè)試成本。 測(cè)試系統(tǒng)適用于各種電子、電器產(chǎn)品的PCBA功能全自動(dòng)功能模擬測(cè)試。改變傳統(tǒng)的依賴人手操作眼觀、耳聽的測(cè)試方式為采用機(jī)械手、機(jī)器視覺、數(shù)據(jù)采集卡自動(dòng)測(cè)試
2013-10-09 10:33:14
表征?！ 〕焖伲篎S-Pro系列較傳統(tǒng)半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，其測(cè)試速度高達(dá)10倍，業(yè)界首創(chuàng)AI測(cè)試加速卡，體驗(yàn)強(qiáng)大速度提升，同時(shí)保持測(cè)試精度。 模塊化架構(gòu)：PXI模塊化架構(gòu)，可輕松擴(kuò)展支持生產(chǎn)測(cè)試（如
2020-07-01 10:02:55
減壓器降低了電壓，增強(qiáng)了電流，是通過什么原理來實(shí)現(xiàn)的？給個(gè)原理圖好嗎，小弟研究一下謝謝了
2019-06-17 04:36:10
使用 ENA 系列安捷倫網(wǎng)絡(luò)分析儀降低測(cè)試成本測(cè)試成本 (COT) 的定義是特定時(shí)間內(nèi)為生產(chǎn)線測(cè)試流程中的設(shè)備所花費(fèi)的總成本。設(shè)備在其使用壽命中的不同階段，COT 會(huì)發(fā)生變化。在設(shè)備購得之時(shí) (t0
2021-08-18 11:01:08
等標(biāo)準(zhǔn)將繼續(xù)增加無線設(shè)備的復(fù)雜性。使用NI PXIe、STS、VTS等NI的軟硬件系統(tǒng)完成的測(cè)試方案有哪幾種呢？
2019-02-13 14:09:43
進(jìn)行測(cè)試，最多只能對(duì)一個(gè)相近系列的產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試。隨著產(chǎn)品生命周期的縮短和制造成本的不斷下降，專用測(cè)試系統(tǒng)變得越來越不經(jīng)濟(jì)。為了降低產(chǎn)品的測(cè)試成本，測(cè)試系統(tǒng)現(xiàn)在必須能夠測(cè)試多種產(chǎn)品，以確保每種產(chǎn)品都能
2019-06-04 06:11:59
變速驅(qū)動(dòng)的需求是什么兼顧性能、成本的高壓功率半導(dǎo)體驅(qū)動(dòng)IC應(yīng)用
2021-04-21 07:06:40
在全球競(jìng)爭(zhēng)和經(jīng)濟(jì)因素環(huán)境下，當(dāng)今高技術(shù)產(chǎn)品利潤(rùn)和銷售在不斷下滑，工程設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)在向市場(chǎng)推出低成本產(chǎn)品方面承受了很大的壓力。新產(chǎn)品研發(fā)面臨兩種不同的系統(tǒng)挑戰(zhàn)：利用最新的技術(shù)和功能開發(fā)全新的產(chǎn)品，或者采用
2019-08-09 07:41:27
的性能，MIMO測(cè)試在進(jìn)行多信道測(cè)試時(shí)的要求更復(fù)雜、規(guī)范更嚴(yán)格、測(cè)試成本更高，所需要的測(cè)試時(shí)間也更長(zhǎng)。 本文提供一些MIMO功率測(cè)量的要點(diǎn)及建議，能夠降低測(cè)試成本、縮短測(cè)試時(shí)間，以及提高測(cè)試精度
2019-06-03 06:44:36
不同的治療頭來實(shí)現(xiàn)不同光斑大小的切換。導(dǎo)致一臺(tái)設(shè)備具有多個(gè)治療手柄的情況，增加了成本同時(shí)還降低了臨床醫(yī)療的便捷性。本文在此背景下研究半導(dǎo)體激光器的原理及封裝形式、激光脫毛醫(yī)療原理及特點(diǎn)，并系統(tǒng)性深入研究
2022-01-10 14:30:55
并降低測(cè)試成本。EXT是一款綜合測(cè)試儀，內(nèi)含矢量信號(hào)分析儀、矢量信號(hào)發(fā)生器、高速序列分析儀和多制式硬件。它提供了非常強(qiáng)大的功能，可滿足未來的LTE TDD測(cè)試需求，例如：高達(dá)3.8GHz的全蜂窩頻段范圍（包括LTE TDD 43頻段）；并支持最新芯片組中實(shí)施的快速序列測(cè)試模式。
2019-06-06 07:04:28
NI TestStand 和LabVIEW應(yīng)用當(dāng)今企業(yè)所面臨的挑戰(zhàn)之一是測(cè)試成本越來越高。由于設(shè)備的復(fù)雜性不斷增加，所以測(cè)試這些設(shè)備的成本也在不斷提高。因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試對(duì)于產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要,而更加復(fù)雜
2019-04-08 09:42:12
的測(cè)試工程師面臨的挑戰(zhàn)是創(chuàng)建新的測(cè)試方法和系統(tǒng)，可以提供顯著降低的測(cè)試成本，以及解決對(duì)可配置，靈活的測(cè)試解決方案的需求。 COTS（現(xiàn)成商業(yè)）硬件在半導(dǎo)體ATE解決方案中總是扮演一些角色 - 有時(shí)擴(kuò)充
2017-04-13 15:40:01
對(duì)于手機(jī)產(chǎn)品，要想使價(jià)格具有竟?fàn)幜?，在設(shè)計(jì)時(shí)采用低成本元器件僅僅是第一步。生產(chǎn)過程成本，特別是最終測(cè)試過程中所發(fā)生的成本對(duì)于最終產(chǎn)品價(jià)格有同樣重要的影響。而且，設(shè)計(jì)工程師經(jīng)常會(huì)低估生產(chǎn)過程所增加的成本。由于這些原因，生產(chǎn)工程師和設(shè)計(jì)工程師必須密切協(xié)作才能保證準(zhǔn)確達(dá)到生產(chǎn)成本目標(biāo)。
2019-09-29 07:04:50
如何確保GPS測(cè)試完整性？如何實(shí)現(xiàn)GPS較短的測(cè)試時(shí)間和較低的測(cè)試成本？
2021-04-15 06:57:09
數(shù)十億臺(tái)5G設(shè)備將面世，如何有效降低5G測(cè)試成本？
2021-02-22 08:15:00
和微波開關(guān)測(cè)試系統(tǒng)中的關(guān)鍵問題，包括不同的開關(guān)種類，RF開關(guān)卡規(guī)格，和有助于測(cè)試工程師提高測(cè)試吞吐量并降低測(cè)試成本的RF開關(guān)設(shè)計(jì)中需要考慮的問題。
2019-07-10 08:02:09
和微波開關(guān)測(cè)試系統(tǒng)中的關(guān)鍵問題，包括不同的開關(guān)種類，RF開關(guān)卡規(guī)格，和有助于測(cè)試工程師提高測(cè)試吞吐量并降低測(cè)試成本的RF開關(guān)設(shè)計(jì)中需要考慮的問題。
2019-07-10 06:34:58
隨著移動(dòng)通信設(shè)備的復(fù)雜性與功能性以指數(shù)方式（由摩爾定律得出）的增長(zhǎng)，測(cè)試它們的成本也在增加。工程師們面臨的挑戰(zhàn)是：需要尋找一種方法，最大程度的降低測(cè)試成本，但是有一種方法就是可以用更少的資源來完成更多的測(cè)試。那么，并行且便攜式的測(cè)試系統(tǒng)有哪些作用呢？
2019-08-09 06:55:57
由于業(yè)界正在不斷尋求更低的測(cè)試成本，許多RF測(cè)試工程師必須繼續(xù)地縮短測(cè)量時(shí)間。如你所知，無線網(wǎng)絡(luò)（WLAN）裝置的測(cè)試操作也必須要迎合這個(gè)趨勢(shì)。無論是用于設(shè)計(jì)檢驗(yàn)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)或者是最終產(chǎn)品的測(cè)試
2019-08-08 08:28:40
半導(dǎo)體測(cè)試公司惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司（Verigy Ltd.）的V93000 SoC測(cè)試機(jī)臺(tái)推出Port Scale射頻（RF）測(cè)試解決方案。這套新的解決方案可提供經(jīng)濟(jì)、有效又可靠的射頻量測(cè)能力
2019-06-21 06:23:57
惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司（Verigy Ltd.）的V93000 SoC測(cè)試機(jī)臺(tái)推出Port Scale射頻（RF）測(cè)試解決方案。這套新的解決方案可提供經(jīng)濟(jì)、有效又可靠的射頻量測(cè)能力，是測(cè)試新式的高
2019-06-27 06:31:28
(Prober)對(duì)接機(jī)制。這樣的緊湊型設(shè)計(jì)減少了占地空間，降低了功耗，減輕了傳統(tǒng)ATE測(cè)試員的維護(hù)負(fù)擔(dān)，從而節(jié)約了測(cè)試成本。 此外，半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)采用開放的模塊化設(shè)計(jì)，使您可以利用最新的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)PXI模塊
2018-07-11 11:00:40
，降低成本變得更具挑戰(zhàn)性。半導(dǎo)體制造商如何提高其最終產(chǎn)品的復(fù)雜性，同時(shí)降低測(cè)試成本？測(cè)試系統(tǒng)未標(biāo)準(zhǔn)化從廣義上講，半導(dǎo)體開發(fā)過程包括設(shè)計(jì)、制造和測(cè)試。今天，IC 設(shè)計(jì)人員使用 EDA（電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化）軟件
2022-03-15 11:30:40
對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試有何要求？對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試有哪幾種方式？如何對(duì)數(shù)字輸出執(zhí)行VOH、VOL和IOS測(cè)試？
2021-07-30 06:27:39
一、無線數(shù)字設(shè)備發(fā)射機(jī)特性測(cè)試技術(shù) 移動(dòng)終端和個(gè)人電腦的無線數(shù)據(jù)功能已發(fā)展為多頻帶、多系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，導(dǎo)致對(duì)前端器件需求的迅速增加。目前，簡(jiǎn)單易用、輕便及低成本終端已成為市場(chǎng)趨勢(shì)，由此引起市場(chǎng)對(duì)小巧
2019-06-05 08:12:26
測(cè)試成本，同時(shí)滿足不斷變化的測(cè)試需求。 本裝置集成了器件電氣和功能測(cè)試所需的各種元件，包括為了檢驗(yàn)傳感器是否正常工作而需要的設(shè)備。 MEMS 器
2022-10-09 14:39:53
NI 全新交互式測(cè)量軟件SignalExpress 使設(shè)計(jì)與測(cè)試走向融合
該軟件擴(kuò)展了虛擬儀器技術(shù)，增強(qiáng)了工作臺(tái)上的測(cè)量功能2004 年10 月--美國國
2009-06-12 10:55:48717 NI加強(qiáng)了數(shù)字音頻測(cè)試功能
美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)近日宣布在NI AudioMASTER套件上推出其最新的高性能軟件和硬件組件。該模擬和數(shù)字音頻的驗(yàn)證
2010-01-13 11:23:45974 吉時(shí)利儀器公司不斷增強(qiáng)半導(dǎo)體行業(yè)性價(jià)比最高的高速生產(chǎn)參數(shù)測(cè)試方案——S530參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的功能。由于有吉時(shí)利測(cè)試環(huán)境軟件（KTE V5.4）的支持，S530目前配置為48引腳全Kelvin開關(guān)以
2012-03-30 11:05:19836 越來越小的利潤(rùn)空間正驅(qū)使元器件制造商降低生產(chǎn)成本，包括測(cè)試成本在內(nèi)。采用具有嵌入式測(cè)試排序器的儀器會(huì)起到作用。為了采取更有效的測(cè)試手段來提高利潤(rùn)空間，制造商要考慮
2012-04-26 10:22:31707 
NI矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）憑借其快速自動(dòng)化測(cè)量、功能強(qiáng)大的儀器結(jié)構(gòu)和經(jīng)簡(jiǎn)化的測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)過程，可降低測(cè)試成本。還集成了高級(jí)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)量功能，形成基于PXI的測(cè)試系統(tǒng)
2012-12-04 13:47:131293 2013 年 9月 —— 美國國家儀器有限公司（National Instruments， 簡(jiǎn)稱NI）- NIWeek - 近日發(fā)布了數(shù)款基于NI LabVIEW可重配置I/O（RIO）架構(gòu)的新產(chǎn)品，為用戶提供靈活性，幫助他們應(yīng)對(duì)現(xiàn)代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的挑戰(zhàn)并降低總測(cè)試成本。
2013-09-11 09:54:00784 在摩爾定律的發(fā)展極限之下，產(chǎn)生更多裝置連結(jié)與資料分析的需求。也由于物聯(lián)網(wǎng)與智慧手機(jī)的發(fā)展，使得類比與RF訊號(hào)更顯得重要。未來的訊號(hào)，將不再以純類比訊號(hào)為主，而是更為復(fù)雜的類比與RF混合訊號(hào)，這使得傳統(tǒng)ATE（半導(dǎo)體自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備）系統(tǒng)出現(xiàn)了瓶頸。
2014-09-05 10:46:241159 “2012年NI推出了業(yè)界第一款具有支持LabVIEW FPGA的矢量信號(hào)收發(fā)儀（VST），幫助工程師加速工程設(shè)計(jì)并降低測(cè)試成本，從而重新定義了儀器儀表，”Frost＆Sullivan通信測(cè)試與測(cè)量
2016-07-13 15:09:531095 在多個(gè)大趨勢(shì)的推動(dòng)下，推動(dòng)世界對(duì)半導(dǎo)體需求的技術(shù)繁榮依然強(qiáng)勁。無線基礎(chǔ)設(shè)施、物聯(lián)網(wǎng)、人工智能、數(shù)據(jù)中心和電動(dòng)汽車是推動(dòng)對(duì)先進(jìn)半導(dǎo)體 IC 需求增加的應(yīng)用示例。隨著每個(gè)單獨(dú)的 IC 中包含更多功能，測(cè)試要求也會(huì)增加，降低成本變得更具挑戰(zhàn)性。半導(dǎo)體制造商如何提高其最終產(chǎn)品的復(fù)雜性，同時(shí)降低測(cè)試成本？
2022-03-23 13:34:003461 NI半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)創(chuàng)新論壇，關(guān)注探討如何在實(shí)驗(yàn)室V&V驗(yàn)證、晶圓及封裝測(cè)試中進(jìn)一步降低成本、提高上市時(shí)間，針對(duì)RFIC、ADC等混合信號(hào)芯片，探討如何通過PXI平臺(tái)化方法降低從實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)的測(cè)試成本、以及提高測(cè)試效率等。
2018-08-22 11:29:393806 針對(duì)于RFIC、ADC等混合信號(hào)芯片探討如何通過PXI平臺(tái)化方法降低從實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)測(cè)試成本、提高測(cè)試效率等，NI與合作伙伴，華興源創(chuàng)，全球儀器，博達(dá)微科技共同邀請(qǐng)您參與此次研討會(huì)，共建良好半導(dǎo)體測(cè)試生態(tài)體系。
2018-08-26 09:14:005248 芯片量產(chǎn)測(cè)試解決方案可基于NI半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)（STS），STS在完全封閉的測(cè)試頭里面繼承了NI PXI平臺(tái)、TestStand測(cè)試管理軟件以及LabVIEW圖形化編程工具。它采用“集成到測(cè)試
2018-09-28 09:30:0012870 馬自達(dá)使用軟件定義的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，推進(jìn)汽車的電氣化，并且降低了90%的測(cè)試成本
2018-10-11 19:37:314050 半導(dǎo)體技術(shù)的要求通常會(huì)超出傳統(tǒng)ATE所能為模擬、混合信號(hào)和RF測(cè)試提供的測(cè)試覆蓋范圍。半導(dǎo)體測(cè)試工程師需要更智能的解決方案來解決成本、可擴(kuò)展性、設(shè)計(jì)和器件挑戰(zhàn)。
2019-02-05 08:41:003190 也許你聽過斯巴魯借助NI軟硬件平臺(tái)，將總測(cè)試時(shí)間減少了94%的成功案例。在汽車智能化、電氣化與網(wǎng)聯(lián)化發(fā)展的浪潮下，系統(tǒng)復(fù)雜性日益增長(zhǎng)導(dǎo)致測(cè)試難度加大，NI幫助很多廠商降低了測(cè)試成本。
2019-01-30 16:04:583644 也許你聽過斯巴魯借助NI軟硬件平臺(tái)，將總測(cè)試時(shí)間減少了94%的成功案例。在汽車智能化、電氣化與網(wǎng)聯(lián)化發(fā)展的浪潮下，系統(tǒng)復(fù)雜性日益增長(zhǎng)導(dǎo)致測(cè)試難度加大，NI幫助很多廠商降低了測(cè)試成本。今天小編就為大家揭秘NI汽車測(cè)試解決方案的核心競(jìng)爭(zhēng)力。
2019-02-18 15:57:243981 作為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的其中一個(gè)環(huán)節(jié)，半導(dǎo)體測(cè)試一直以來備受關(guān)注。隨著半導(dǎo)體制程工藝不斷提升，測(cè)試和驗(yàn)證也變得更加重要。
2019-04-11 09:12:5915047 半導(dǎo)體測(cè)試解決方案專業(yè)品牌蔚華科技今日宣布與美商NI（National Instruments 國家儀器）合作，未來將負(fù)責(zé)NI大中華區(qū)的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)（STS， Semiconductor
2019-05-22 09:32:301137 國家儀器該公司于今日推出了STS軟件的最新增強(qiáng)功能，這些功能可顯著提升NI半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)的編程和調(diào)試體驗(yàn)，并大大提高測(cè)試執(zhí)行速度、并行測(cè)試效率和整體設(shè)備效率。
2019-10-14 14:30:52910 National Instruments，（簡(jiǎn)稱NI）近日與蘇州納芯微電子股份有限公司（簡(jiǎn)稱納芯微）、上海孤波科技有限公司（簡(jiǎn)稱孤波）達(dá)成三方戰(zhàn)略合作，開啟在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域的全新合作模式，引領(lǐng)半導(dǎo)體測(cè)試行業(yè)創(chuàng)新發(fā)展。
2019-11-04 15:31:442767 “NI是一家軟件定義平臺(tái)供應(yīng)商，致力于幫助用戶加快自動(dòng)化測(cè)試和自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)的開發(fā)速度并提高其性能。該公司今天宣布推出全新4 GHz車載雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)（VRTS）。
2019-11-20 16:56:174077 Radio等標(biāo)準(zhǔn)將繼續(xù)增加無線設(shè)備的復(fù)雜性。今天，我們將 為各位介紹6個(gè)使用NI PXIe、STS、VTS等NI的軟硬件系統(tǒng)完成的測(cè)試方案。
2020-10-29 10:41:00
1 ●全面的RF、數(shù)字和直流儀器產(chǎn)品組合—您可以自定義新的STS配置并升級(jí)現(xiàn)有測(cè)試儀，以納入您需要的儀器資源，同時(shí)保持測(cè)試程序和負(fù)載板的可移植性。
2020-07-27 16:05:461160 NI于2014年推出的NI STS，基于實(shí)驗(yàn)室儀表級(jí)別精度的模塊化儀器，同時(shí)滿足測(cè)試精度和量產(chǎn)測(cè)試覆蓋率的需求。NI STS是基于模塊化儀器的PXI平臺(tái)，因此，NI STS可以不斷擴(kuò)展以滿足日益增多以及定制化的測(cè)試需求。
2020-08-05 15:52:472172 
Express RIO 中頻收發(fā)器。RIO技術(shù)不僅用于控制應(yīng)用，強(qiáng)大的FPGA功能大大提高了測(cè)試吞吐量，使新的測(cè)試成為可能，從而增強(qiáng)了自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。同時(shí)，現(xiàn)成可用的商業(yè)硬件平臺(tái)以及LabVIEW為FPGA編程帶來的簡(jiǎn)化，也大大降低了系統(tǒng)開發(fā)難度和成本。
2020-08-18 09:35:393370 
半導(dǎo)體封測(cè)解決方案專業(yè)品牌蔚華科技與合作伙伴NI共同宣布成功為安科諾（arQana）打造完整射頻測(cè)試解決方案，從實(shí)驗(yàn)室開發(fā)至量產(chǎn)導(dǎo)入皆采用NI 半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)（STS），在航空與國防芯片的高標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
2020-10-20 15:33:371616 專板（Loadboard），季豐電子保持一貫的作風(fēng)：一次設(shè)計(jì)生產(chǎn)成功，滿足客戶測(cè)試指標(biāo)要求并準(zhǔn)時(shí)交貨。其他客戶的STS專板也正在設(shè)計(jì)中，將于近期交付。 NI STS是一款直接可用于量產(chǎn)環(huán)境的ATE，具有高吞吐量、低成本等優(yōu)勢(shì)，適用于RF、混合信號(hào)和MEMS半導(dǎo)體器件的生產(chǎn)測(cè)試。STS可直
2020-12-15 17:29:231659 如今，半導(dǎo)體企業(yè)愈發(fā)關(guān)注產(chǎn)品上市前的測(cè)試環(huán)節(jié)。NI采用顛覆性的半導(dǎo)體測(cè)試方案，助力企業(yè)降低測(cè)試成本以及加速產(chǎn)品上市，這就是我們常說的“一個(gè)平臺(tái)”戰(zhàn)略，從實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)測(cè)試，只需一個(gè)平臺(tái)。安森美、英飛凌
2021-01-04 09:17:292004 
為了滿足批量生產(chǎn)的需求，用戶需要布置很多工位來調(diào)試這些器件的S參數(shù)指標(biāo)。傳統(tǒng)的做法是在每個(gè)工位獨(dú)立配置一臺(tái)二端口VNA，這樣整個(gè)車間會(huì)需求大量的VNA，導(dǎo)致用戶的測(cè)試成本長(zhǎng)期居高不下。如何進(jìn)一步降低測(cè)試成本，成為用戶當(dāng)前最大的挑戰(zhàn)
2021-02-08 09:34:001815 2021年OPPO開發(fā)者大會(huì)趙梁：云真機(jī)為開發(fā)者降低不同機(jī)型測(cè)試成本，極大提升研發(fā)效率。
2021-10-27 15:21:382596 
前言 當(dāng)今半導(dǎo)體測(cè)試工程師面臨的挑戰(zhàn)是如何尋找和創(chuàng)建一個(gè)新的測(cè)試解決方案，該方案被要求能夠顯著降低測(cè)試成本，并滿足可配置、開放架構(gòu)、靈活的測(cè)試解決方案的需求，這些解決方案可以提供與專用ATE平臺(tái)
2021-11-10 10:36:106 ?自主射頻測(cè)量助手可在多個(gè)溫度范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)完全自主，免提的射頻校準(zhǔn)和測(cè)量。它具有獨(dú)特的Contact Intelligence?技術(shù)，可降低測(cè)試成本并以提高的準(zhǔn)確性和縮短的設(shè)計(jì)周期縮短產(chǎn)品上市時(shí)間
2022-06-21 14:55:08638 測(cè)試是任何衛(wèi)星計(jì)劃的重要組成部分。提高總程序成本的一種方法是降低測(cè)試成本。取消測(cè)試似乎很誘人，但設(shè)備故障的風(fēng)險(xiǎn)會(huì)顯著增加。保持儀器和系統(tǒng)的準(zhǔn)確性可降低測(cè)試成本，并以多種方式縮短程序進(jìn)度。例如，衛(wèi)星
2022-11-16 15:31:07532 
NI宣布收購 SET GmbH(簡(jiǎn)稱“SET”)。SET是長(zhǎng)期專注于航空航天和國防測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)的專家，也是功率半導(dǎo)體可靠性測(cè)試領(lǐng)域的創(chuàng)新者。加入NI后，將共同縮短關(guān)鍵的、高度差異化的解決方案的上市時(shí)間，并以碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)等功率電子材料為切入點(diǎn)，加速從半導(dǎo)體到汽車的供應(yīng)鏈融合。
2023-03-15 17:42:56917 2023年4月6日，是德科技（Keysight Technologies,Inc.）日前宣布，推出一款全新 FlexOTO 光測(cè)試優(yōu)化軟件和解決方案。該解決方案可降低多通道接口測(cè)試的總體測(cè)試成本
2023-04-06 18:00:01932 原文標(biāo)題：下周五｜TSO.ai：打通AI應(yīng)用“最后一公里”，降低芯片測(cè)試成本 文章出處：【微信公眾號(hào)：新思科技】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
2023-06-09 18:05:01535 
原文標(biāo)題：本周五｜TSO.ai：打通AI應(yīng)用“最后一公里”，降低芯片測(cè)試成本 文章出處：【微信公眾號(hào)：新思科技】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
2023-06-12 17:45:03338 
本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關(guān)如何助力一次性通過單插入測(cè)試，以幫助進(jìn)行DC參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字測(cè)試，從而降低測(cè)試成本，簡(jiǎn)化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測(cè)試流程。
2023-07-10 15:42:53291 
測(cè)試流程和良率，并降低成本，同時(shí)降低基于云的解決方案存在的安全風(fēng)險(xiǎn)。 泰瑞達(dá)半導(dǎo)體測(cè)試部營(yíng)銷副總裁兼總經(jīng)理Regan Mills表示：“采用先進(jìn)工藝的高質(zhì)量半導(dǎo)體器件需求增加了半導(dǎo)體制造的復(fù)雜性，只有全面的測(cè)試和分析解決方案才能幫助解決這一問題。
2023-07-20 18:00:27362 虹科電源測(cè)試系統(tǒng)ATE升級(jí)實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試密度和更低的測(cè)試成本01高密度精度測(cè)量單元HK-HDPMU在單板上提供多達(dá)192個(gè)額外的獨(dú)立參數(shù)測(cè)量單元(PMU)通道。虹科解決方案將增加并行測(cè)試，而無需創(chuàng)建
2023-09-04 16:22:23319 
什么是半導(dǎo)體的成品測(cè)試系統(tǒng)，如何測(cè)試其特性？ 半導(dǎo)體的成品測(cè)試系統(tǒng)是用于測(cè)試制造出來的半導(dǎo)體器件的一種設(shè)備。它可以通過一系列測(cè)試和分析來確定半導(dǎo)體器件的性能和功能是否符合設(shè)計(jì)規(guī)格。 半導(dǎo)體器件是現(xiàn)代
2023-11-09 09:36:44265
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