在前述的理論中，所有的理論公式都是在忽略多次散射耦合條件下而得出的，這些公式對常規天線的測量有一定的精度，但對低副瓣或超低副瓣天線測量就必需考慮這些因素，因此，需要建立嚴格的耦合方程。

（2）近場測量對天線口徑場診斷的精度和速度

近場測量對常規陣列天線口徑場的診斷有較好的診斷精度，但對于超低副瓣天線陣列而言，診斷精度和速度還需要進一步研究。

（3）輻射近場掃頻測量的研究

就一般情況而言，天線都在一個頻帶內工作，因此，各項電指標都是頻率的函數，為了快速獲得各個頻率點的電指標，就需要進行掃頻測量。掃頻測量的理論與點頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時，收發測量系統作掃頻測量。
（4）時域輻射近場測量的研究

為了反映脈沖工作狀態和消除環境及其他因素對測量數據的影響，時域測量是一個良好的解決此類問題的途徑，但目前處于研究階段［9］。

（5）無相位的輻射近場測量的研究

前述的輻射近場測量方法都需要測量出近場的相位和幅度，才能利用近場理論計算出天線的遠場電特性，為了簡化計算公式和測量系統以及降低測量時間與測量的相位誤差（在頻率f很高的情況下，即f＞80 GHz，相位的測量誤差是很大的），于是，有學者提出只用近場測量值的幅度來重建天線遠場的方法。該方法的基本思想為［10］：測出S1，S2兩個面的幅度值（A1，A2），人為選定S1面測量值的相位（φ1），先由S1面的幅度、相位值（A1，φ1）計算出S2面的幅度、相位值（a2，φ2），用A2代替a2，再由A2，φ2求出S1面的a1，φ1，用A1代替a1，重新由A1，φ1求出S2面新的a2，φ2，如此迭代下去，直至A1-a1≤ε，A2-a2≤ε（ε為測量精度），便可得到S1或S2面的相位分布，這時，可由S1或S2實測的幅度和迭代過程所得到的相位求得天線的遠場電特性。由于迭代收斂等原因，這方面的研究還未付諸實施。

（6）球面、柱面近場掃描方式誤差上界的分析與估算。