薄膜電容器是屬于一種使用頻率算是比較高的電器，它主要是被廣泛的使用在模擬信號的交連以及其他電源處。薄膜電容器它具有非常多優良的特點，是一種相當優秀的電容器產品。

電容器失效

電容器擊穿、開路、引線斷裂、絕緣了破裂等使電容器完全失去工作能力的失效屬致命性失效，其余一些失效會使電容不能滿足使用要求，并逐漸向致命失效過渡;

電容器在工作應力與環境應力綜合作用下，工作一段時間后，會分別或同時產生某些失效模式。同一失效模式有多種失效機理，同一失效機理又可產生多種失效模式。失效模式與失效機理之間的關系不是一一對應的。

薄膜電容失效分析

薄膜電容器用于二極管吸收電路，電容額定壓630VDC， 電路中正常尖峰小于200V，滿足降額要求。失效電容器外觀良好，無損壞痕跡用LCR長測試，失效樣品均無容量，引腳間呈開路狀態解開電容器塑料封裝，引線以及引線與噴金層焊接良好，噴金層與芯子連接部位有發黑痕跡;展開電容器芯子金屬化膜，部分失效電容器金屬化膜光亮平整完好，另。 部分金屬化膜已經發熱變形。初步判斷為電路dv/dt過人導致電容器失效。測試電路中電壓波形，發現dv/dt 為3000V/u s，但選用的薄膜電容器dv/dt最大值只有40V/μ s。

為驗證失效模式，取批新電容器，初測正常，上機老化后，電容器80-90%

失效，排除廠家來料質量問題，確定該電容器不適合在該電路中使用。

解決方案

所有單板（包括半成品、成品以及發貨產品》此位置使用的該電容器全部更換為可規格dv/dt較人的雙面金屬化聚丙烯山容器后問題解決。

對于薄膜電容，選取吸收電容的參數除電壓和容量外，最主要的指標還有dv/dt和紋波電流（電壓）。特別是dv/dt這個參數，即使是容量和電壓相同，系列不同、引腳間距不同的電容，其額定值可從幾V/us到幾KV/us。如果僅從電壓和容量指標選擇電容，電容I作一段時間后就會容值衰減甚全消失。另外由于功率器件開關頻率比較高（可達上百KHz），高頻下較小的電壓波動就會導致較人的紋波電流（I=WCU），過人的紋波電流將導致心容溫開高、參數劣化或燒毀。