光耦合器的功用
光耦合器傳輸的信號可以為數字信號，也可以為模擬信號，僅僅對器件要求不同，故選擇時應針對輸入信號選擇相應的光電耦合器。模擬信號所用光耦常稱為線性光耦，光電耦合器在傳輸信號的原理上與隔離變壓器相同，但它體積小，傳輸信號的頻率高，運用方便，光電耦合器一般選用DIP封裝。
用于傳遞模擬信號的光耦合器的發光器件為二極管、光接收器為光敏三極管。當有電流通過發光二極管時，便構成一個光源，該光源照射到光敏三極管表面上，使光敏三極管發作集電極電流，該電流的大小與光照的強弱，亦即流過二極管的正向電流的大小成正比。由于光耦合器的輸入端和輸出端之間通過光信號來傳輸，因此兩部分之間在電氣上完全隔離，沒有電信號的反應和煩擾，故功用安穩，抗煩擾才干強。發光管和光敏管之間的耦合電容小（2pf左右）、耐壓高（2.5KV左右），故共模克制比很高。輸入和輸出間的電隔離度取決于兩部分供電電源間的絕緣電阻。此外，因其輸入電阻小（約10Ω），對高內阻源的噪聲相當于被短接。因此，由光耦合器構成的模擬信號隔離電路具有優異的電氣功用。
事實上，光耦合器是一種由光電流控制的電流轉移器件，其輸出特性與普通雙極型晶體管的輸出特性相似，因而可以將其作為普通放大器直接構成模擬放大電路，并且輸入與輸出間可實現電隔離。然而，這類放大電路的工作穩定性較差，無實用價值。究其原因主要有兩點：一是光耦合器的線性工作范圍較窄，且隨溫度變化而變化；二是光耦合器共發射極電流傳輸系數β和集電極反向飽和電流ICBO（即暗電流）受溫度變化的影響明顯。因此，在實際應用中，除應選用線性范圍寬、線性度高的光耦合器來實現模擬信號隔離外，還必須在電路上采取有效措施，盡量消除溫度變化對放大電路工作狀態的影響。
從光耦合器的轉移特性與溫度的關系可以看出，若使光耦合器構成的模擬隔離電路穩定實用，則應盡量消除暗電流（ICBO）的影響，以提高線性度，做到靜態工作點IFQ隨溫度的變化而自動調整，以使輸出信號保持對稱性，使輸入信號的動態范圍隨溫度變化而自動變化，以抵消β值隨溫度變化的影響，保證電路工作狀態的穩定性。
光耦合器的類型
光耦合器有管式、雙列直插式和光導纖維式等封培育形式，其種類達數十種。光耦合器的種類達數十種，主要有通用型（又分無基極引線和基極引線兩種）、達林頓型、施密特型、高速型、光集成電路、光纖維、光敏晶閘管型（又分單向晶閘管、雙向晶閘管）、光敏場效應管型。此外還有雙通道式（內部有兩套對管）、高增益型、交-直流輸入型等等。國外生產廠家有英國ISOCOM公司等，國內廠家的蘇州半導體總廠等。
光電耦合器怎么測好壞
可以通過測量電路上內部二極管和三極管的正向和反向電阻來為您判斷光電耦合器。較為可靠的檢測方法有以下三種。
A.通過比較法排除可能出現故障的光耦。用萬用表測量其內部二極管和晶體管的正負電阻。將測量值與良好的光電耦合器的相應腳進行比較。如果電阻差很大，光耦合器就會損壞。
B.以EL817光電耦合器檢測為例，說明了數字萬用表的檢測方法。
檢測電路如圖1所示。在檢測過程中，光電耦合器內部二極管的+端{1}腳和-端{2}腳分別插入到數字萬用表的HFE C和E插孔中。此時，數字萬用表應放置在NPN塊中。然后，光電耦合器內光電晶體管C{5}腳與指針萬用表的黑色筆連接，e{4}腳與紅色筆連接，指針萬用表移位至RX1k塊。這樣，光耦合器就可以通過指針式萬用表的偏轉角度來判斷，這實際上就是光電流的變化。指針偏右越大，光電耦合器的光電轉換效率越高，即透過率越高，反之越低；如果指針不移動，光耦合器就會損壞。
C.光電效應判斷方法仍以EL817光耦合器檢測為例，檢測電路如圖2所示。萬用表放置在RX1k電阻塊中，兩支筆分別連接到光耦合器的輸出{4}和{5}英尺。然后，將1.5V電池與50-100Omega電阻串聯后，電池的正負極連接到EL817的{1}英尺，負極連接到{2}英尺，或正極和負極分別連接到{1}英尺和{2}英尺。如果指針振蕩，光耦合器是好的。如果不振蕩，則光耦損壞。萬用表指針擺動偏轉角越大，光電轉換靈敏度越高。
你可以用兩個萬用表來測量它。該光電耦合器由發光二極管和光電晶體管封裝組成。例如，光電耦合器4N25采用DIP-6封裝，具有六個引腳。所述腳分別為陽極和陰極，所述腳為空腳，所述腳分別為晶體管的e電極、C電極和B電極。過去，在使用萬用表測量光電耦合器時，只對發光二極管和光電晶體管分別進行檢測和判斷，而對光電耦合器的傳輸性能卻沒有作出判斷。
