數碼產品中邏輯信號處理頻率越高，信號所需的上升沿越陡峭。對于半導體測試設備來說，波形品質特別重要。在測量被測器件(DUT)的過程中，測試信號通過某些繼電器到達DUT，但在到達前信號會衰減。 TLP3375和TLP3275將重點放在高頻信號的通過特性上，等效上升時間(ERT)分別大幅改進至40 ps 和 60 ps。此外，TLP3375 採用新開發的超小型USOP封裝，支援高密度封裝。
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特徵
杰出的高頻通過特性
應用
半導體測試設備
測量設備
輪廓圖
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電路實例
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主要規格
小型光繼電器的主要技術要求: TLP3375, TLP3275
