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電子發燒友網>制造/封裝>半導體技術>半導體新聞>從Intel的衰退中看破壞性創新 - 全文

從Intel的衰退中看破壞性創新 - 全文

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了解無人機對飛機的撞擊有著多大的破壞

無人機對飛機的撞擊究竟會有多大破壞力?這可能是不少人都頗為疑惑的一個問題。近日,美國代頓大學的研究所進行了一個模擬測試,模擬了無人機撞擊機翼后的結果。從結果來看,相對速度并不高的撞擊下,無人機就已經可以對機翼造成破壞性結果了。
2018-10-20 08:33:003069

能量采集設計中破壞電壓浪涌的解決方案

與任何電子電路一樣,當瞬態電壓浪涌超過元件額定值時,能量收集設計可能會發生災難性故障。隨著人們越來越關注在極低電壓可穿戴設備和物聯網中利用能量收集,設計人員需要敏銳地意識到破壞性電壓浪涌的來源及其
2019-03-28 08:57:003673

Intel為何退出5G基帶業務市場

上個月,蘋果與高通達成和解后不久,Intel就宣布退出移動5G基帶市場。近日,Intel CEO司睿博(Bob Swan)接受國內媒體采訪時談及此事表示,原因是在這個市場當中看不到Intel爾可以贏利的機會。
2019-05-09 11:20:442351

關于《創新者的窘境》的內容分析和介紹

行業的創新模式,發現正是那些暫時遭到主流客戶拒絕的關鍵的、突破性的技術,逐漸演變成了主導新市場的“破壞性創新”。
2019-09-20 10:44:441792

諧振技術:SJXZ串聯諧振試驗對電纜、變壓器是否有破壞性

串聯諧振對電纜,變壓器有危害嗎?有,肯定是有的,但是相比直流耐壓要小很多,無論是直流耐壓試驗還是交流耐壓試驗,它們同屬于‘破壞性試驗’,不同在于它們所造成的危害程度不同,相比而言,交流耐壓的嚴重程度
2019-09-02 12:41:222621

shijidianli電力系統中哪些試驗項目是破壞性試驗

破壞性試驗可應用在不同的領域,泛指在性能測試過程中發生不可逆的變化或隱患,破壞性試驗同樣在不同的領域采取不同的試驗方式,一般建議采取抽樣檢測的方式,因為它具有不同程度的破壞性,因此在同一試驗品上不可
2020-02-17 14:25:175452

韓國半導體出口額連續1年衰退,同比衰退了16.7%

韓國關稅廳統計12月1~20日產業出口狀況,相較去年同期,整體出口下滑2%,半導體產業減少幅度較大,衰退16.7%,外界預期,韓國單月出口額將創下連續1年衰退的紀錄。
2019-12-23 11:42:072058

能源行業中的區塊鏈顛覆將出現在何處

克里斯坦森(哈佛商學院教授,“破壞性創新”的首創者)區分了兩種創新:延續性創新破壞性創新。延續性創新旨在提高產品質量。破壞性創新是指用客戶眼中價格更低、更便捷、質量更優的產品代替您的產品。最近
2021-01-07 09:55:161229

手機電池性能和壽命衰退的原因分別是什么

手機電池性能 手機電池性能衰退可以分為正常性衰退和濫用性衰退。 正常性衰退是指手機電池放電循環次數的減少,是由于電池在正常使用狀態下的自然衰退,也是無法避免的。 濫用性衰退是指手機電池因為不正確
2021-03-25 15:05:065985

晶體管的破壞性物理分析

DPA分析(Destructive Physical Analysis)即破壞性物理分析,它是在電子元器件成品批中隨機抽取適當樣品,采用一系列非破壞破壞性的物理試驗與分析方法,以檢驗元器件
2021-12-13 09:39:13544

供應商如何適應破壞性需求變化

UAS操作,這需要商業安全標準的支持。此外,希望為軍方(或商業客戶)提供UAS技術的軟件開發人員必須通過采用新方法來開發無人駕駛飛機系統來快速響應。不理會這些破壞性力量可能會使供應商處于寒冷之中。
2022-10-28 11:18:40248

Minitab Engage可以解決您在行業中可能面臨的一些最具生產力破壞性的問題

專家經常會遇到所有問題。這些問題會減緩進度、危及計劃并降低工作效率。幸運的是,Minitab 針對這些問題和許多其他問題提供無代碼的端到端解決方案:Minitab Engage。Engage 可以解決正您在行業中可能面臨的一些最具生產力破壞性的問
2022-12-05 11:18:56296

半導體集成電路破壞性物理分析詳細科普!

破壞性物理分析(Destructive Physical Analysis,簡稱DPA)是為了驗證元器件的設計、結構、材料和制造質量是否滿足預定用途或有關規范的要求,對元器件樣品進行剖析,以及在剖析前后進行一系列分析的全過程。DPA對提高元器件的綜合使用品質及使用效能具有十分重要的作用。
2022-12-12 09:49:51631

半導體集成電路非破壞性鍵合拉力試驗原理、程序、失效判據介紹!

結果,并與已知正確輸出結果進行比較而判斷芯片功能、性能、結構好壞的過程。本文__【科準測控】__小編就分享一下半導體集成電路非破壞性鍵合拉力試驗,我們將從測試目的、設備要求、程序、失效判據這幾個點來講解! 測試目的 本方
2023-01-11 11:35:041097

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