FPGA硬件電路設(shè)計 - 多路接口與E1協(xié)議轉(zhuǎn)換器設(shè)計
FPGA主要根據(jù)時隙的分配設(shè)置,在時鐘系統(tǒng)的管理控制下,完成E1的編解幀功能。功能框圖如圖6所示。
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CPU根據(jù)設(shè)置向時隙分配寄存器寫入相應(yīng)的數(shù)據(jù)。在發(fā)送數(shù)據(jù)時,E1編解幀模塊根據(jù)時隙分配設(shè)置,從相應(yīng)的FIFO讀取數(shù)據(jù),寫入該時隙。對于沒有使用的空時隙,按照空時隙處理辦法填入無效數(shù)據(jù)。發(fā)送時鐘為FPGA外接的2.048 MHz時鐘。由于XRT82D20為數(shù)據(jù)差分輸入,因此將編解幀模塊輸出的數(shù)據(jù)TPOS進(jìn)行反向得到TNEG,平衡輸出。TCLK為發(fā)送時鐘。
在接收時,XRT82D20數(shù)據(jù)差分輸入RPOS,RNEG,將兩個信號相減得到輸入數(shù)據(jù)信號,RCLK為時鐘輸入。在輸入時鐘的控制下,E1編解幀模塊將數(shù)據(jù)解幀。同時,根據(jù)時隙分配設(shè)置,將各個時隙的數(shù)據(jù)送入不同的接口FIFO。
3 軟件主程序流程圖
MPC875主要完成接口芯片初始化設(shè)置、時隙分配設(shè)置輸入、狀態(tài)顯示等功能。
上電以后,CPU進(jìn)行初始化設(shè)置。延遲1 ms進(jìn)行內(nèi)存地址分配:每個自定義寄存器及I/O均分配一個內(nèi)存地址,CPU操作時讀寫相應(yīng)地址即可;接著進(jìn)行LTC1546/LTC1544模式選擇,將三組接口分別配置為V.35,RS 449,RS 232;然后查詢時隙分配設(shè)置輸入,如果已經(jīng)輸入時隙分配設(shè)置,則讀取時隙設(shè)置數(shù)據(jù),否則,等待時隙設(shè)置輸入;協(xié)議轉(zhuǎn)換器初始化設(shè)置完畢,每隔100 ms進(jìn)行一次線路運(yùn)行狀態(tài)告警顯示。
4 協(xié)議轉(zhuǎn)換器測試
4.1 測試平臺搭建
測試平臺由JDSU ANT-5 SDH接入測試儀,協(xié)議轉(zhuǎn)換器,示意圖如圖8所示。JDSU ANT-5手持型SDH/PDH傳輸分析儀,內(nèi)置所有必要的接口:從T1Bantam、E1平衡與E1非平衡,到STM-16/OC48光接口;測試速率從1.544 Mb/s~2.5 Gb/s;大屏幕、簡單圖形化界面、中文菜單,易于使用。
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首先進(jìn)行時隙分配設(shè)置,將1到15時隙分配給V.35接口,17到30時隙分配給RS 449接口,31時隙分配給RS 232接口。由JDSU ANT-5 SDH接入測試儀發(fā)出的2 MHz信號,進(jìn)入?yún)f(xié)議轉(zhuǎn)換器,然后分別將V.35,RS 449,RS 232接口環(huán)回,再將輸出的E1信號接入測試儀,在測試儀中測試環(huán)回信號的各種特性。
4.2 測試結(jié)果
依照上述測試平臺進(jìn)行協(xié)議轉(zhuǎn)換器功能測試,測試結(jié)果顯示,誤碼率為0,說明協(xié)議轉(zhuǎn)換器功能正常。JDSU ANT-5 SDH接入測試儀測試截圖如圖9所示。其中BER為誤碼率。
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5 結(jié)語
本文提出了一種多路接口與E1的協(xié)議轉(zhuǎn)換設(shè)計方法,并具體介紹了時隙分配及調(diào)度、空時隙處理等技術(shù)難點(diǎn)。通過實現(xiàn)V.35,RS449,RS 232三路接口與E1的協(xié)議轉(zhuǎn)換,證明該方案是可行的。另外,本設(shè)計具有良好的擴(kuò)展性,可以方便的根據(jù)具體應(yīng)用添加或去除接口,也可以在本設(shè)計的基礎(chǔ)上進(jìn)行二次開發(fā),完成更多的功能。
- 第 1 頁:多路接口與E1協(xié)議轉(zhuǎn)換器設(shè)計
- 第 2 頁:三路接口與E1協(xié)議轉(zhuǎn)換的實現(xiàn)
- 第 3 頁:FPGA硬件電路設(shè)計
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( 發(fā)表人:葉子 )