基恩士形狀測(cè)量激光顯微系列

激光納米顯微鏡

型號(hào)： VK-X3000

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

測(cè)量能力 1nm-50mm

--- 產(chǎn)品詳情 ---

非接觸瞬間掃描形狀

不會(huì)損傷目標(biāo)物
納米級(jí)別也可準(zhǔn)確測(cè)量
透明體和坡度大的目標(biāo)物也可測(cè)量

分析

希望了解的表面“差異”一目了然

定量化微小形狀
輕松比較多個(gè)樣品
粗糙度分析

三重掃描方式解決“難以測(cè)量”的難題

可根據(jù)樣品工件的材料、形狀和測(cè)量范圍，選擇激光共聚焦、白光干涉、聚焦變化等三種不同的掃描原理，進(jìn)行高精度測(cè)量。

即使是納米級(jí)的微小形狀變化也能準(zhǔn)確測(cè)量。

此外，如鏡面體、透明體等測(cè)量難度高的材料也能實(shí)現(xiàn)高速、高精度、大范圍的測(cè)量。

連高度差較大的凹凸處和大范圍區(qū)域也能測(cè)量

掃描區(qū)域50 mm見方。

凹凸不平或手掌大小的物體也能整體掃描。

只需一臺(tái)設(shè)備，即可同時(shí)掌握整體形狀和局部形狀。

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