--- 產品參數 ---
- 產地 美國
- 寬溫度范圍 -185 °C 至 500°C
- 腔室體積 59 L
--- 產品詳情 ---
因產品配置不同, 價格貨期需要電議, 圖片僅供參考, 一切以實際成交合同為準
上海伯東代理美國 inTEST Sigma M58 高低溫試驗箱, 配置觸摸屏可編程顯示控制器, 腔室體積 59L, 標準溫度范圍 -100°C 至 200°C.
Sigma M58 高低溫試驗箱特性
寬溫度范圍: -100°C 至 200°C ( 可選: -185 °C 至 500°C), 典型的轉變速率為 25°C / 分鐘或更快
與同類型高低溫試驗箱對比, 占地面積更小
可選配
單腔熱沖擊和 MIL-STD
觸摸屏可編程控制器, 支持遠程通信
inTEST Sigma M58 高低溫試驗箱規格
溫度范圍 | -100°C 至 200°C |
變溫速率 | 加熱:18 °C 至 30°C /分鐘(電壓/電流依賴) |
腔室尺寸 | 34.3cm x 49.5cm x 34.3cm |
腔室體積 | 59 L |
外形尺寸 | 45.7cm x 59.7cm x 70.4cm |
類型 | 標準桌面臺式, 可選地板站立或機架安裝 |
冷卻劑類型 | LN2 (LCO2可選降低低端溫度) |
功率要求 | 100-120V / 50HZ-60HZ / 1PH / 15-20A |
inTEST Sigma 高低溫試驗箱典型應用:
上海伯東代理美國 inTEST Sigma 高低溫試驗箱, 提供標準型號和客制化型號供選擇, Sigma 高低溫試驗箱根據不同應用, 提供數百種所需的配置, 針對試驗箱尺寸, 外觀和物理設備訪問, 溫度范圍和變溫速率進行優化, 適用于網絡設備高低溫試驗, 材料拉伸高低溫試驗, 遙測系統高低溫試驗, 電信設備設計驗證測試, MEMS 校準測試. LED 壽命測試, 汽車零部件老化測試等.
上海伯東美國 inTEST SigmaSystems 高低溫試驗箱超過50年的溫度試驗箱設計經驗, 提供各種尺寸形狀的腔體, 試驗箱腔體測試溫度范圍 -185 至+500°C, 變溫速率快, Sigma 高低溫沖擊試驗箱擁有一個基本的模型庫, 可以靈活的選擇所需的配置滿足各類應用.
若您需要進一步了解 inTEST Sigma 高低溫試驗箱 詳細信息或討論, 請聯絡上海伯東葉女士 分機107
現部分品牌誠招合作代理商, 有意向者歡迎聯絡上海伯東 葉女士
上海伯東版權所有, 翻拷必究!
為你推薦
-
inTEST 芯片高低溫沖擊熱流儀2024-10-18 13:59
產品型號:ATS-535 產地:美國 溫度范圍:-60 至+ 225°C 特點:集成空壓機 -
inTEST BT28 桌面型高低溫沖擊熱流儀2024-09-12 13:56
產品型號:inTEST BT28 溫度范圍:-28° 至 +225°C 溫度顯示和分辨率:+/- 0.1°C -
離子束刻蝕機 20 IBE-J2024-09-12 13:51
產品型號:20 IBE-J 特點:干法物理納米級刻蝕 射頻角度:可以任意調整 -
inTEST Sigma M256 高低溫試驗箱2023-12-01 10:58
產品型號:Sigma M256 產地:美國 腔室體積:255 L -
inTEST Sigma M170 高低溫試驗箱2023-12-01 10:55
產品型號:Sigma M170 產地:美國 溫度范圍:-185°C 至 400°C 腔室體積:165 L -
inTEST Sigma M58 高低溫試驗箱2023-12-01 10:19
產品型號:Sigma M58 產地:美國 寬溫度范圍:-185 °C 至 500°C 腔室體積:59 L -
inTEST Sigma M10 高低溫試驗箱2023-12-01 10:06
產品型號:Sigma M10 產地:美國 寬溫度范圍:-185°C 至 500°C 腔室體積:10 L -
inTEST Sigma 高低溫試驗箱, 溫度環境試驗箱2023-12-01 09:39
產品型號:Sigma 品牌:inTEST 產地:美國 溫度范圍:-185°至 +500°C -
普發分流式分子泵 SplitFlow2023-07-11 10:13
產品型號:SplitFlow 產地:德國 -
普發分子泵 HiPace 80 Neo2023-07-11 10:09
產品型號:HiPace 80 Neo 產地:德國
-
Gel-Pak VRP 可變黏度防靜電真空釋放盒2024-10-18 14:19
-
氦質譜檢漏儀 ASM 340W 鋰電池蓋帽(蓋板)檢漏系統2024-09-13 10:53
-
KRi 霍爾離子源 EH 2000 望遠鏡鏡片光學鍍膜應用2024-09-13 10:38
-
美國 inTEST 高低溫沖擊熱流儀助力半導體芯片研發2024-09-13 10:19
-
離子束刻蝕機物理量傳感器 MEMS 刻蝕應用2024-09-12 13:31
-
氦質譜檢漏儀應用于半導體新材料和設備管道檢漏2023-11-09 15:31
-
氦質譜檢漏儀應用于真空鍍膜生產線2023-08-07 14:35
-
Gel-Pak VR真空釋放盒應用于50V GaN HEMT 芯片2023-08-07 14:28
-
inTEST熱流儀邏輯芯片 FPGA高低溫沖擊測試2023-08-07 14:21
-
上海伯東分子泵應用于 LED 芯片退火合金爐2023-08-07 14:14
-
Aston Impact 高靈敏度質譜分析儀 CVD 清洗終點優化2024-10-18 13:42
-
Aston 質譜儀等離子體刻蝕過程及終點監測2024-10-18 13:33
-
Aston 質譜分析儀搭配 Scrubber 半導體尾氣處理設備進行氣體檢測2024-10-18 13:24
-
鈮酸鋰 LiNbO3 薄膜 IBE 離子束刻蝕2024-09-13 10:59
-
美國 Gel-Pak 應用于 VCSEL 芯片生產2024-09-13 10:28
-
美國進口 KRi 考夫曼離子源 KDC 160 硅片刻蝕清潔案例2024-09-13 10:10
-
inTEST 熱流儀車載顯示器高低溫光學測量應用2024-09-12 14:17
-
HiCube 80 Eco 分子泵組搭配低溫阻抗測試儀應用2023-12-08 14:29
-
SF6 密度繼電器氦質譜檢漏法2023-12-08 14:21
-
新能源汽車 IGBT 功率器件高低溫沖擊測試2023-12-01 15:48