精密推拉力試驗機是一種用于測試微型半導體芯片力學性能的儀器，主要用于測量半導體芯片等的拉伸、壓縮和彎曲強度等力學性能。這種儀器需要使用特定的拉力針進行測量，其原理是通過拉力針對樣本施加一個沿軸線方向的拉力或壓力，然后記錄樣本在這一拉力或壓力下的變形情況，從而得到樣本的力學特性參數。
精密推拉力試驗機使用注意事項
1. 在使用推拉力機之前，一定要進行儀器的檢查和校準，以保證其精度和可靠性。
2. 選用應根據實際測試需要進行，不同的推力拉力機適用于不同類型的樣本。
3. 在對樣本進行測試時，應保證樣本的幾何形狀、尺寸和表面質量等參數符合要求，以保證測試結果的準確性。
4. 在實際測試中，應根據樣本的力學性能特點和測試要求，選擇合適的測試方法和測試參數。
5. 在對樣本進行測試時，應按照儀器的使用說明書進行操作，避免錯誤使用和損壞。
6. 在測試中，應注意保持儀器的環境溫度和濕度穩定，并避免外部干擾，以保證測試結果的可靠性和準確性。
設備型號：LB-8600
外形尺寸：660mm*610mm*800mm（含左右操作手柄）660*610*800
設備重量：約 95KG
電源供應：110V/220V@3.0A 50/60HZ
氣壓供應：4.5-6Bar
控制電腦：聯想/惠普原裝PC
電腦系統：Windows7/Windowsl0 正版系統
顯微鏡：標配高清連續變倍顯微鏡（可選配三目顯微鏡+高清CCD相機）
傳感器更換方式：自動更換（在軟件選擇測試項目后，相應傳感器自動至測試工位）
平臺治具：360度旋轉，平臺可共用各種測試治具
XY軸絲桿有效行程：100mm*100mm 配真空平臺可拓展至200mm*200mm，大測試力100KG
XY軸大移動速度：采用霍爾搖桿對XY軸自由控制，大移動速度為6mm/S
XY軸絲桿精度：重復精度±5um 分辨率≤0.125 ： 2mm以內精度±2um
Z軸絲桿有效行程：100mm 分辨率≤0.125um,大測試力20KG
Z軸大移動速度：采用霍爾搖桿對Z軸自由控制，大移動速度為8mm/S
Z軸絲桿精度：±2um 剪切精度2mm以內精度±lum
傳感器精度：傳感器精度土0.003%：綜合測試精度土0.25%
設備治具：根據樣品或圖紙按產品設計治具（出廠標配一套）
設備校正：設備出廠標配相應校正治具及砝碼一套
質量保證：設備整機質保2年，軟件身免費升級（人為損壞不含）
