隨著SOC越來越復雜,包含的IP越來越多,單個SOC上實現了CPU, 射頻模塊,相機模塊,DDR控制....
摩爾學堂 發表于 11-16 09:24
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CMOS 反相器的發展為集成電路提供了基本功能,是技術史上的一個轉折點。該邏輯電路突出了 CMOS ....
摩爾學堂 發表于 11-15 09:47
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量子計算機要充分發揮潛力,需要數百萬量子比特,而不是目前的數百量子比特。然而,通往量子計算機規模化的....
摩爾學堂 發表于 11-14 09:20
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? 在使用高速模數轉換器 (ADC) 進行設計時,需要考慮很多因素,其中 ADC 采樣時鐘的影響對于....
摩爾學堂 發表于 11-13 09:49
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在本文中,我們將介紹低壓差 (LDO) 穩壓器中噪聲和電源抑制比 (PSRR) 的影響。讓我們簡單討....
摩爾學堂 發表于 03-15 17:12
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LDO是Low Dropout Regulator的縮寫,意思是低壓差線性穩壓器,LDO是用來做什么....
摩爾學堂 發表于 03-08 15:48
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本文介紹了設計雙邊射頻放大器以實現最大增益的方法。在單邊設計方法中,可以使用單邊品質因數(U)來評估....
摩爾學堂 發表于 12-07 10:21
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本文介紹了在設計單向射頻放大器時增益分析的重要性。首先,在低頻放大器的分析相對簡單,因為不需要考慮信....
摩爾學堂 發表于 12-05 10:02
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MOSFET的非理想特性對模擬集成電路設計具有重要影響。文章介紹了非理想特性的多個方面,包括電容、體....
摩爾學堂 發表于 11-16 16:15
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本文介紹了MOSFET的物理實現和操作理論。MOSFET由NMOS和PMOS構成,有截止區、線性區和....
摩爾學堂 發表于 11-15 09:30
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本文是關于相位噪聲建模、仿真和傳播在鎖相環中的應用的第三部分。文章介紹了相位噪聲的理論和測量方法,并....
摩爾學堂 發表于 10-27 11:42
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本篇文章是關于相位鎖定環(PLL)頻率合成器的設計和分析,重點討論了相位噪聲和頻率噪聲的測量、建模和....
摩爾學堂 發表于 10-26 15:30
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盡管設計和驗證很復雜,SERDES 已成為 SoC 模塊不可或缺的一部分。隨著 SERDES IP ....
摩爾學堂 發表于 10-23 14:44
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使用正弦直方圖測試方法可以確定模擬數字轉換器(ADC)的參數,并優于線性斜坡直方圖測試方法。
摩爾學堂 發表于 10-22 15:58
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SerDes(Serialization/Deserialization)是一種在數字通信系統中提供....
摩爾學堂 發表于 10-20 15:31
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電壓模式控制通過將輸出電壓反饋到誤差放大器來控制輸出電壓,而CMC則通過采樣電感電流來控制輸出電壓。
摩爾學堂 發表于 10-19 10:58
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抖動是指信號的跳邊時刻偏離其理想(ideal)或者預定(expected)時刻的現象。噪聲,非理想的....
摩爾學堂 發表于 10-18 15:52
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直方圖測試是確定模數轉換器(ADC)靜態參數的最流行方法之一。
摩爾學堂 發表于 10-17 15:58
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接收端均衡器的目標和發送均衡器是一致的。對于低速(<5Gbps)SerDes,通常采用連續時間域,線性均衡器實現如尖峰放大器(peaking amplifier), 均衡器對高頻分量的增益大于對低頻分量的增益。圖2.8為一個線性均衡器的頻域特性。通常工廠會對均衡特性封裝為數種級別,可以動態設置,以適應不同的信道特性,如High/Med/Low等。
摩爾學堂 發表于 10-16 16:18
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FPGA發展到今天,SerDes(Serializer-Deserializer)基本上是器件的標配....
摩爾學堂 發表于 10-16 14:50
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IBM 研究團隊創建的設計可以在每個芯片上編碼 3500 萬個相變存儲設備;換句話說,模型具有多達 ....
摩爾學堂 發表于 08-28 15:38
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伺服環路測試可以確定模數轉換器 (ADC) 傳遞函數。本文將介紹伺服環路 ADC 測試的基礎知識,并....
摩爾學堂 發表于 08-21 15:33
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? GPT-4已經會自己設計芯片了!芯片設計行業的一個老大難問題HDL,已經被GPT-4順利解決。并....
摩爾學堂 發表于 06-20 11:51
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繼續深入研究一個可以產生負電源電壓的簡單SPICE電路,我們將考慮振蕩器頻率對系統性能參數的影響。 ....
摩爾學堂 發表于 06-19 09:32
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繼續深入研究一個可以產生負電源電壓的簡單SPICE電路,我們將考慮振蕩器頻率對系統性能參數的影響。
摩爾學堂 發表于 06-19 09:31
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了解如何使用 Y 因子方法測量噪聲系數 (NF)。我們將深入研究如何使用它來查找噪聲因子、如何校準噪....
摩爾學堂 發表于 06-12 10:07
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NF 指標使我們能夠表征 RF 組件和系統的噪聲性能。
摩爾學堂 發表于 06-12 10:07
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芯片設計過程是一項復雜的多步驟工作,涉及從初始系統規格到制造的各個階段。
摩爾學堂 發表于 06-05 10:03
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本文研究了奈奎斯特-香農采樣定理的一個重要方面,并解釋了它與模數轉換中抗混疊濾波器需求的聯系。
摩爾學堂 發表于 05-19 15:17
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在上一篇介紹奈奎斯特-香農定理的文章中,我們看到當以每個周期不提供至少兩個樣本的頻率對波形進行采樣時....
摩爾學堂 發表于 05-18 11:02
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